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设计名称
基于BRM下白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验数据的统计分析
设计编号
A59-A0089
设计软件
AutoCAD, Word
包含内容
见右侧图片
说明字数
21000字
图纸数量
见右侧图片
推荐指数
较高
价格:
价格优惠中
整理日期
2013.09.25
整理人
小林
购买流程
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设计简介

文档包括:

说明书一份,27页,21000字左右.
任务书一份
开题报告一份
翻译一份.
程序一份

 


毕业设计题目:  基于BRM下白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验数据的统计分析         专 业    机械设计制造及其自动化

一、课题背景、目的、意义
有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode, OLED)是由光刻电极基板与有机发光材料构成的显示器件,由于其轻、薄、宽视角、低功耗、响应速度快等优点,所以具有极大的竞争力和市场应用潜力。在经历了几十年的发展,聚合物EL器件寿命已超过1万小时,OLED产品已经占据了一定的市场,但要与LCD竞争,OLED的研究机构和生产厂商还要做各种努力,而寿命问题是其最大的技术难点,OLED的工作稳定性和可靠性寿命仍然是人们普遍关注的问题。对于OLED产品随着各生产厂商的科技水平日益提高其寿命也不断的增加,然而在确定OLED产品寿命信息的过程中,一般OLED寿命试验需一年以上的时间,在时间和经费上来说已成为企业的沉重负担,有的试验结果出来后,很可能产品已经更新,失去了试验的意义。因此有必要改进通常的寿命试验方法,推出一种符合OLED失效机理的加速寿命试验方法。
本课题的目的就是利用威布尔分布函数、双线性回归法(BRM)的理论建立白光OLED寿命估计的理论模型。通过已经实现的加大白光OLED的驱动电流开展的两组恒定应力加速寿命试验和一组步进应力加速寿命试验,利用威布尔函数来描述其寿命分布,并对已得到数据利用双线性回归法(BRM)完成了白光OLED加速寿命试验数据的统计分析。由此锻炼学生独立对问题进行深入分析研究的能力。


二、 课题的主要内容及要求(要求详实、具体、准确)
本课题主要内容分为四个部分
1、 威布尔分布的参数设定
理解威布尔分布的原理,参数假设。
2、 寿命试验参数的数值分析估计法——双线性回归法
理解双线性回归法估计参数的原理;
学会用双线性回归法估计出威布尔分布的参数。
3、 Matlab编程与图形绘制
用Matlab编写寿命预测软件并学会初步使用Matlab绘图。
4、 完成寿命的预测
完成OLED恒定与步进相组合的加速寿命试验数据的统计分析以及寿命的预测。

课题要求:具备一定高等数学基础;
有一定编程能力。

 

三、 成品要求(包括课题主要目标及成果)
11)采用BRM对恒定和步进应力加速寿命试验的数据进行统计分析,完成威布尔分布条件下白光OLED的寿命估计;
2)完成2万字的论文。

 

 

四、 课题计划进度
周 次 设计(论文)各阶段内容 日 期
2- 3 明确课题目的要求,发放任务书 2.27-3.11
4-5 书写并上交开题报告 3.12-3.25
6-7 了解对数正态分布原理 3.26-4.8
8 了解极大似然法原理  4.9-4.15
9-10 学习利用极大似然法估算对数正态分布的参数 4.16-4.29
11 学习初步使用MATLAB语言 4.30-5.6
12 掌握MATLAB基于极大似然法和对数正态分布的数据分析程序的编写和图形绘制,中英文翻译 5.7-5.13
13 编写论文前三章包括引言,简介和理论模型 5.14-5.20
14-15 根据数据得到相关结论,进行毕业论文撰写及修改 5.21-6.3
16-17 毕业论文的书写,论文修改、答辩 6.4-6.15

 

 

五、 有关资料及参考书目
[1] Zhang Jianping, Wang Ruitao. Reliability life prediction of VFD by constant temperature stress accelerated life tests and maximum likelihood estimation [J]. Journal of Testing and Evaluation, 2009, 37( 4): 316-320.
[2] Zhang Jianping, Wang Ruitao. Life prediction for vacuum fluorescent display using maximum likelihood estimation [J]. Journal of Southeast University (English Edition), 2009, 25(2): 189-192.
[3] 顾瑛. 可靠性工程数学[M]. 北京: 电子工业出版社, 2004: 100-102, 113-117, 166-167.
[4] 戴树森, 费鹤良, 王玲玲,等. 可靠性试验及其统计分析[M]. 北京: 国防工业出版社, 1983: 284-301.
[5] 张建平. 真空荧光显示屏恒定及步进应力加速寿命试验的研究[J]. 电子器件, 2005, 28(4): 714-718.
[6] 葛广平. 我国加速寿命试验研究的现状与展望[M]. 数理统计与管理, 2000, 19(1): 25-29.
[7] GB 2689.3-81. 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则[S]. 中华人民共和国国家标准, 1981: 3.
[8] Nelson W. Accelerated Life Testing-step-Stress Models and Data Analyses[J].  IEEE Trans, Reliability, R-29, 1980: 103-108.
[9] 张志华. 加速寿命试验及其统计分析[M]. 北京: 北京工业大学出版社, 2002.
[10] 张建平, 王睿韬. 基于MAM的真空荧光显示器寿命预测[J]. 液晶与显示, 2008, 23(6): 765-770.
[11] 张建平, 王睿韬. 对数正态分布下基于MAM的VFD加速寿命试验研究[J]. 电子器件, 2008, 31(6): 1735-1738.
[12] 陈循, 陶俊勇, 张春华. 可靠性强化试验与加速寿命试验综述[J]. 国防科技大学学报, 2002, 24(6): 29-32.
[13] 袁永波, 连加容, 周翔. 空穴阻挡层对有机发光二极管寿命的影响[J]. 电子器件, 2008,  31(1): 25-28.
[14] 常天海, 彭双庆. OLED应用技术的进展[J]. 真空与低温, 2008, 14(2): 115-118.
[15] Kapil Sakariya, Clement K. M. Ng, Peyman Servati, and Arokia Nathan. Accelerated stress testing of a-Si:H pixel circuits for AMOLED displays[J]. IEEE Transactions on Electron Devices,2005,12(52): 2577-2583.
[16] JUAN T. Implementation of a novel system for measuring the lifetime of OLED panels [J]. IEEE Consume Electronics, 2003, 49(1): 1-2.
[17] 刘青宜, 张志峰. 有机电致发光的研究及其进展[J].真空电子技术, 2005, 5: 24-27.
[18] Pope M, Kallmann H, Magnante P. Electroluminescence in organic crystals [J]. J Chem.Phys, 1963, 38 (8): 2042-2043.
[19] Tang C W, VanSyke S A. Organic electroluminescent diodes [J]. Appl Phys Lett, 1987, 51(12): 913.

 

 摘要
采用威布尔函数描述白光OLED的寿命分布,利用双线性回归法(BRM)估计出威布尔参数,确定了加速寿命方程,对白光OLED寿命是否符合威布尔分布进行了Kolmogorov-Smirnov检验,利用MATLAB软件编程计算出平均寿命和中位寿命。数值结果表明,白光OLED的寿命服从威布尔分布,寿命应力关系满足线性Arrhenius方程,精确计算的加速参数可实现在短时间内OLED寿命的预测。
关键词:OLED;加速寿命试验;威布尔;BRM


STATISTICAL ANALYSIS ON CONSTANT-STEP
STRESS ACCELERATED LIFE TEST DATA OF WHITE OLED BY BRM
ABSTRACT
Weibull Distribution function was applied to describe white OLED life distribution. Bilinear Regression Method (BRM) was employed to estimate the Weibull parameters, and the accelerated life equation was determined. The Kolmogorov-Smirnov test was performed to verify whether the White OLED life meets the Weibull distribution or not, and the software programming by MATLAB was employed to calculate the average life and the median life. The numerical results indicate that the OLED life follows Weibull distribution, and that the life-stress relationship satisfies linear Arrhenius equation perfectly. The precise accelerated parameter is shown to be particularly useful to estimate the OLED life within shorter time.
Keywords: OLED; Accelerated life test; Weibull; BRM
 


目录
摘要
ABSTRACT
第一章 绪论 1
第二章 OLED的介绍 1
2.1研究背景 1
2.2 研究目的 3
2.3 工作原理 3
2.4 OLED的特点 3
2.5 OLED的应用 4
2.6 OLED的国内外现状 6
2.7 寿命研究的方法 7
第三章 加速寿命试验的理论模型 8
3.1 可靠性 8
3.1.1 可靠性的概念 8
3.1.2 可靠性指标 9
3.2 加速寿命试验概述 12
3.3 加速寿命试验模型 12
3.4加速寿命试验的类型 13
3.4.1恒定应力加速寿命试验 13
3.4.2步进应力加速寿命试验 14
3.4.3序进应力加速寿命试验 14
3.5 威布尔分布 14
3.6 双线性回归法 15
第四章 加速寿命试验数据的统计分析及寿命估计 16
4.1 理论假设 16
4.2 试验数据 17
4.3 恒定应力试验数据处理 18
4.4 加速寿命方程 18
4.5 步进应力试验数据处理 18
4.6 加速参数的修正 19
4.7 分布拟合的校验 20
4.8 寿命估计 20
4.8.1 计算方法 20
4.8.2 计算结果 20
第五章 结论 21
参考文献 21
致谢 23

部分图纸
截图
说明:
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